هوالعيم
آماده‌سازي نمونه براي ميکروسکوپ الکتروني عبوري (TEM) با استفاده از پرتو يوني متمرکز (FIB)
آماده‌سازي نمونه براي ميکروسکوپ الکتروني عبوري (TEM) با استفاده از پرتو يوني متمرکز (FIB)
خلاصه :
يکي از مهمترين کاربردهاي روش پرتو يوني متمرکز (Focused Ion Beam-FIB) ، تهيه نمونههايي براي بررسي به وسيله‌ي ميکروسکوپ الکتروني عبوري (Transmission Electron TEM- Microscope( است. نمونهها بايد به طور يکنواخت نازک شده باشند تا قادر به عبور پرتو الکتروني باشند. FIB نه تنها تهيه‌ي نمونههايي با ضخامت يکنواخت و با موقعيت ويژه، بلکه ساخت لايه‌هاي قابل استفاده در نمونه‌هاي TEM، از نمونه‌هاي کامپوزيتي داراي مواد آلي و معدني با خواص بسيار متفاوت را امکانپذير مينمايد. اين مقاله خلاصهاي از روش‌هاي مختلف براي تهيه‌ي نمونه‌ي نهايي با استفاده از FIB را ارائه مي‌کند.
متن اين مقاله به صورت pdf قابل دريافت مي باشد(
) |
