به نام خدا
ميكروسكوپي نيروي مغناطيسي MFM
ميكروسكوپي نيروي مغناطيسي MFM
MFM تغييرات نيروي مغناطيسي در سطح نمونه را تصوير مي‌كند. براي MFM نوك با لايه نازكي از يك ماده فرومغناطيس پوشانده شده است. سيستم در حالت غيرتماسي كار مي‌كند و تغييرات فركانس رزونانس كانتي ليور در اثر وابستگي ميدان مغناطيسي به فاصله نوك تا نمونه را اندازه‌گيري مي‌كند. در شکل زیر . MFM مي‌تواند براي تصوير گرفتن از ساختار حوزه طبيعي يا ايجاد شده در مواد مغناطيسي به كار رود.
تصويري كه با يك نوك مغناطيسي گرفته مي‌شود حاوي هر دو نوع توپوگرافي و خواص مغناطيسي سطح است. نيروي مغناطيسي بين اتمي نسبت به نيروي واندروالس درفواصل بيش تر نوك تا نمونه باقي مي‌ماند. اگر نوك به سطح نمونه نزديك باشد در ناحيه‌اي كه AFM غيرتماسي استاندارد كار مي‌كند تصوير عمدتا توپوگرافي خواهد بود. با افزايش فاصله بين نوك و نمونه اثرات مغناطيسي ظاهر مي‌شوند. جمع‌آوري يك سري تصاوير با فواصل مختلف نوك تا نمونه يك راه جدا كردن اثرات مغناطيسي از توپوگرافي است شكل زیر(صفحه ی 321 مرعشی) بخش الف نانوساختار يك نمونه آلياژ مغناطيسي NdBFe تهيه شده به روش انجماد سريع، و شكل‌هاي ب و پ تصاوير MFM اتم‌هاي جهت اعمال ميدان مغناطيسي را بر روي ساختار حوزه‌هاي مغناطيسي نمونه نشان مي‌دهد.
علاوه بر حالت‌هاي فوق توسعه هوشمندانه ايده روبش با پروب باعث غلبه بر محدوديت‌هاي ظاهرا ذاتي ميكروسكوپي با نور نيز شده است
منبع: http://edu.nano.ir/index.php/articles/show/45
