
- آناليز سريع و راحت (در هر بار آزمايش) (بدليل بزرگي زواية فضايي آشكاساز و جمعآوري همة پرتوهاي X با انرژي مختلف دريك زمان)
- آناليز كيفي (خطوط نزديكتر از ev 200-100 قابل آشكارسازي نيستند) (علاوه بر درهم رفتن دو پيك مجاور نسبت ارتفاع پيكها به زمينه خيلي خوب نيست)
- ارتفاع پيك به زمينه نامناسب (براي استفاده در اندازهگيريهاي كمي) (به دليل پارازيتهاي الكتروني موجود در آشكارساز)
- محدوديت عنصري (Na به بالا يا B به بالا) (به دليل جذب فوتونهاي كم انرژي توسط پنجرهها)
- مشكلات سرد بود دائم آشكارساز (شارژ دائمي نيتروژن مايع)
- در برخي نمونهها (تقريباً مشخصند) پيكهاي نويزگونه (نويز مجموع دو فوتون و نويز گريزKeV 74/1 E-) وجود دارد كه تشخيص اين پيكهاي نويزي نيازمند تجربة تحليلگر يا قدرت نرمافزار تحليل كننده دارد.
- امكان تهية همزمان نقشههاي چندگانه (در WDS يگانه) از چند عنصر در يك ناحيه (بر خلاف WDS)
- تنها آشكارسازي كه بر روي TEM و STEM قابل نصب است (البته به شرطي كه اين مسالة در هنگام طراحي TEM و لنزها در نظر گرفته شده باشد) (به دليل تعداد بسيار كم فوتونهاي X و راندمان بسيار بالاتر آشكارسازي نسبت به WDS) (از مزاياي نصب EDS بر روي TEM به جاي SEM بالا رفتن تفكيكپذيري نقشة به دست آمده از فوتونهاي X (تا 10 نانومتر هم ميتواند باشد در حالي كه در SEM بهتر از 1 نميتواند باشد)
- سرعت نسبتاً كند ( به دليل كوچكي زاوية فضايي آشكارسازي و جمعآوري فقط يك طول موج در آن واحد و در نتيجه لزوم جمعآوري ديتا در تمام زواياي ممكن)
- آناليز كمي با دقت بالا:
• تيز بودن پيكها (تشخيص عناصر با انرژي فوتون X نزديك به هم و نادر بودن همپوشاني پيكهاي مجاور)
• زياد بودن نسبت ارتفاع پيك به زمينه (اندازهگيري كمي غلظت عناصر با دقت خوب 10 برابر EDS)
- لزوم مهندسي دقيق در طراحي دستگاه به دلايل:
• حساسيت بالاي قدرت سيگنال فوتونهاي X به جابجايي و خروج ميكرومتري نمونه از دايرة رولاند (در نتيجه براي به دست آوردن نقشة شيميايي نواحي بزرگتر از 5 × 5 بايد نمونه جابهجا شود نه باريكة الكتروني)
• لزوم دقت تنظيم زواياي و 2 با دقت بهتر از 1 دقيقه براي تشخيص خطوط نزديك به هم
- عدم محدوديت آشكارسازي عنصري (به شرط امكان استفاده از چند كريستال، با ثابت شبكه مختلف، در هنگام آناليز طيفي) (به دليل محدوديتهاي عملي در طراحي مكانيكي دستگاه در چرخشهاي زياد)
- سرعت معقول آشكارسازي هنگامي كه نوع عنصر را از قبل بدانيم (براي آناليز كمي و نقشه عنصر مربوطه) (چرا كه زاوية در مقدار خاصي ثابت نگه داشته ميشود و از طرفي سرعت آشكارسازي تعداد فوتونها توسط آشكارسازگازي WDS زياد است)
- تفكيكپذيري غلظتي بهتر از EDS است (%05/0 در برابر % 1/0)
توجه
1- دستگاه مخصوصي در بازار وجود دارد (EPMA) كه براي آناليز حرفهاي نمونههاي متعدد طراحي شده است.
2- آناليزگرهاي پرتو X هر دو (EDS و WDS) اين مشكل را دارند كه براي نمونههاي ناهموار خيلي مناسب نيستند چرا كه بلنديها بعضاً جلوي رسيدن فوتونهاي X جاهاي گود را ميگيرند.
3-در برخي ازموارد هر دو آشکارساز بطور همزمان بر روي دستگاه نصب ميشود .
- نياز به خلأ بالا (torr 8-10 )، آسيبديدگي نمونههاي حساس (برخي تركيبات آلي و بيولوژيك)
- ميتواند به عنوان آشكارسازي روي SEM نصب شود و نقشة شيميايي سطح را با دقت عرضي 100 نامتر (15 نانو متر در FEAES) و دقت عمقي 3 نانومتر به دست دهد.
- زمان آناليز كامل طيفي هر پيكسل حدود 5 دقيقه
- قابليت تشخيص همة عناصر و تركيبات شيميايي آنها (به جز هليم و هيدروژن) با دقت غلظتي ~ % 30 تا % 10 (و به روايت Evans %1 تا % 1/0 )
- در TEM نصب ميشود چرا كه الكترونهاي عبوري مورد بررسي قرار ميگيرند و ضخامت نمونه بايد كمتر از 100 نانومتر باشد.
- براي عناصر سبك مناسبتر است.
- سرعت نسبتاً كمي دارد ولي استفاده از آشكارسازهاي آرايهاي (چيزي شبيه CCDها) اين مساله را كمرنگ ميكند.
- براي آناليز كمي نياز به زمان بالاي جمعآوري اطلاعات دارد (براي كافي شدن آمار الكتروني)
- در صورت كافي بودن آمار آشكارسازي الکترون ها ضخامت نمونه و تركيب شيميايي عناصر (علاوه بر نوع عنصر و غلظت آن) هم قابل تعيين است.